Товаров: 0  |   На сумму: 0 руб
0
ОБОРУДОВАНИЕ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЙ, КОНТРОЛЯ И ИСПЫТАНИЙ
г. Москва, 4-й проезд Подбельского, д. 3, стр. 2
Пн. - Пт. с 9-00 до 18-00
+7 (495) 988-79-77

info@geo-ndt.ru
КАТАЛОГ ОБОРУДОВАНИЯ
Главная / Каталог приборов и оборудования / Контроль характеристик / Измерители шероховатости, профилометры, профилемеры / Измерительная станция для контроля шероховатости и контура поверхности Hommel-Etamic Nanoscan 855

Измерительная станция для контроля шероховатости и контура поверхности Hommel-Etamic Nanoscan 855

  • Hommel-Etamic Nanoscan 855

    /images/all/3/13805/big/img_5.jpg

    jijijij

    Измерительная станция для контроля шероховатости и контура поверхности Hommel-Etamic Nanoscan 855
  • Hommel-Etamic Nanoscan 855

    /images/all/3/13805/big/img_14.jpg

    Hommel-Etamic Nanoscan 855

    Hommel-Etamic Nanoscan 855

ЦЕНА: по запросу

КУПИТЬ
ПРОИЗВОДИТЕЛЬ:
JENOPTIK (Hommel-Etamic)


Страна производитель: Германия Германия

Гарантия: 1 год
Версия для печати
Просьба уточнять актуальность цены у менеджеров. Стоимость указана с учетом НДС. Оплата производится по безналичному расчету.

Внимание! Счета выставляются при сумме заказа от 3000 руб. Мы работаем как с юридическими, так и с физическими лицами.

Осуществляем доставку по России, Казахстану, Беларуси и странам таможенного союза курьерскими службами и транспортными компаниями.

Вакансия - менеджер по продажам оборудования для неразрушающего контроля, геодезии, механических испытаний и измерений.

ДВА В ОДНОМ. HOMMEL nanoscan 855 комбинированный прибор для одновременного контроля шероховатости и контура поверхности за один проход.

 

УЛЬТРА-ТОЧНАЯ ОПТИКО-МЕХАНИЧЕСКАЯ ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ СИСТЕМА. Для синхронного измерения характеристик шероховатости и контура поверхности на криволинейных и наклонных поверхностях необходима высокоточная измерительная система с широким измерительным диапазоном.  HOMMEL nanoscan 855 это СВЕРХ-точная измерительная система с разрешением 0,6 нанометра на диапазоне 24 мм. Одновременно с высокой точностью хода данный прибор обладает превосходными точностными характеристиками параметров микро-геометрии и контура в широком диапазоне.

 

АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ЦИКЛ ИЗМЕРЕНИЯ. Станция для контроля шероховатости nanoscan 855 наряду с высокой точностью обеспечивает высокую скорость измерения полностью в  ЧПУ режиме, что гарантирует высокую производительность в контроле качества.

 

Функциональные характеристики HOMMEL nanoscan 855:

 

  • Эргономичный дизайн

  • Система активного подавления вибрации

  • Управление станции с джойстиком

  • Измерение шероховатости и контура за один проход

  • Нет необходимости в выравнивании поверхности перед измерением, что экономит время

  • Возможность измерения шероховатости на сферах

  • Сверхнизкие внутренние шумы

  • Подходит для измерений поверхностей с высокой чистотой обработки

  • Измерение параметров элементов профиля с высокой точностью:

    окружности (радиуса, диаметры, межцентровые расстояния), участки контура (расстояния, углы, шаги, прямолинейность, автовыравнивание) и т.д.

 

Технические характеристики HOMMEL nanoscan 855:

 

 

Параметр

ед. изм.

Величина

В горизонтальной плоскости

 

 

Длина трассирования

мм

0,1 ... 200

Скорость трассирования

мм/с

0,05 ... 10

Скорость измерения

мм/с

0,05 ... 5

Интервал выборки данных

мкм

0,01 ... 10

Прямолинейность хода

мкм/мм

0,4 / 200

В вертикальной плоскости

 

 

Измерительный диапазон

мм

24

Разрешение

нм

0,6

Измерительное усилие

мН

±0,5 ... 50

Введите число *


Введите число *

ПОХОЖИЕ ТОВАРЫ

Измерительная станция для контроля шероховатости и контура поверхности Hommel-Etamic Nanoscan 855

ДВА В ОДНОМ. HOMMEL nanoscan 855 комбинированный прибор для одновременного контроля шероховатости и контура поверхности за один проход.

 

УЛЬТРА-ТОЧНАЯ ОПТИКО-МЕХАНИЧЕСКАЯ ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ СИСТЕМА. Для синхронного измерения характеристик шероховатости и контура поверхности на криволинейных и наклонных поверхностях необходима высокоточная измерительная система с широким измерительным диапазоном.  HOMMEL nanoscan 855 это СВЕРХ-точная измерительная система с разрешением 0,6 нанометра на диапазоне 24 мм. Одновременно с высокой точностью хода данный прибор обладает превосходными точностными характеристиками параметров микро-геометрии и контура в широком диапазоне.

 

АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ЦИКЛ ИЗМЕРЕНИЯ. Станция для контроля шероховатости nanoscan 855 наряду с высокой точностью обеспечивает высокую скорость измерения полностью в  ЧПУ режиме, что гарантирует высокую производительность в контроле качества.

 

Функциональные характеристики HOMMEL nanoscan 855:

 

  • Эргономичный дизайн

  • Система активного подавления вибрации

  • Управление станции с джойстиком

  • Измерение шероховатости и контура за один проход

  • Нет необходимости в выравнивании поверхности перед измерением, что экономит время

  • Возможность измерения шероховатости на сферах

  • Сверхнизкие внутренние шумы

  • Подходит для измерений поверхностей с высокой чистотой обработки

  • Измерение параметров элементов профиля с высокой точностью:

    окружности (радиуса, диаметры, межцентровые расстояния), участки контура (расстояния, углы, шаги, прямолинейность, автовыравнивание) и т.д.

 

Технические характеристики HOMMEL nanoscan 855:

 

 

Параметр

ед. изм.

Величина

В горизонтальной плоскости

 

 

Длина трассирования

мм

0,1 ... 200

Скорость трассирования

мм/с

0,05 ... 10

Скорость измерения

мм/с

0,05 ... 5

Интервал выборки данных

мкм

0,01 ... 10

Прямолинейность хода

мкм/мм

0,4 / 200

В вертикальной плоскости

 

 

Измерительный диапазон

мм

24

Разрешение

нм

0,6

Измерительное усилие

мН

±0,5 ... 50

0 RUB
Цены носят справочный характер и не являются публичной офертой, определяемой положениями п. 2 ст. 437 ГК РФ.
Технические характеристики (спецификация) оборудования, внешний вид и комплект поставки могут быть изменены производителем без предварительного уведомления.
Во избежание недоразумений просьба уточнять у специалистов отдела продаж. © 2023